測(cè)量磁通密度（即拉動(dòng)磁鐵的力的強(qiáng)度）并計(jì)算薄膜厚度。
當(dāng)涂層較薄時(shí)，探頭與基材之間的距離變得更近，因此拉動(dòng)磁鐵的強(qiáng)度（磁通密度）變得更強(qiáng)。另一方面，如果涂層較厚，探頭與基材之間的距離就會(huì)較長(zhǎng)，拉動(dòng)磁鐵的強(qiáng)度（磁通密度）就會(huì)較弱。
這樣，磁鐵的拉力與探針到基板的距離成正比，因此利用這個(gè)性質(zhì)來計(jì)算薄膜厚度。

請(qǐng)注意，如果漆膜具有磁性，則無法進(jìn)行測(cè)量。

電磁膜厚計(jì)

測(cè)量金屬表面的渦流并計(jì)算薄膜厚度。
如果漆膜較薄，探頭與基材之間的距離就會(huì)變短，金屬表面產(chǎn)生的渦流就會(huì)變強(qiáng)。相反，如果漆膜較厚，探頭與基材之間的距離就會(huì)變長(zhǎng)，渦流就會(huì)變?nèi)酢?br style="box-sizing: border-box;"/>這樣，渦流的強(qiáng)度與探頭到基材的距離成正比，因此利用這個(gè)性質(zhì)來計(jì)算膜厚。

請(qǐng)注意，只能在不導(dǎo)電的絕緣薄膜上進(jìn)行測(cè)量。

渦流膜厚儀

``這是一種配備電磁式和渦流式兩種方法的膜厚計(jì)。它
兼容鐵等磁性材料和鋁等有色金屬。

NDT Mart 的薄膜測(cè)厚儀包括KC-210和KC-260FN 。

電磁/渦流膜厚儀
（雙膜厚儀）

根據(jù)超聲波傳播時(shí)間計(jì)算薄膜厚度。
從探頭發(fā)射的超聲波在涂層和基材之間反射并返回到探頭。
超聲波膜厚計(jì)測(cè)定該超聲波從發(fā)送到接收的時(shí)間，將該時(shí)間乘以涂膜的聲速來計(jì)算膜厚。

超聲波涂層測(cè)厚儀主要用于測(cè)量混凝土、塑料、木材、玻璃等涂層的厚度。其主要特點(diǎn)是可以測(cè)量金屬以外的基材。
然而，與其他方法不同的是，必須在探頭（傳感器）和測(cè)量點(diǎn)之間施加一種稱為耦合劑的液體。另外，必須注意的是，不能測(cè)量粗糙表面、起泡漆膜以及超聲波難以傳輸?shù)钠崮ぁ?/p>

超聲波膜厚計(jì)